Poids de l’Open access dans la production CNRS
Home
Resources
Graphs
Search
Export
Sign in
Titre
Drain current local variability from linear to saturation region in 28 nm bulk NMOSFETs
XX
BSO - Titre
Drain current local variability from linear to saturation region in 28nm bulk NMOSFETs
XX
DOI
DOI
10.1016/j.sse.2016.10.020
XX
DOAI
DOAI
10.1016/j.sse.2016.10.020
XX
Identifiant WoS
WOS:000392680300006
XX
Accès ouvert
OA - Non
XX
Source - Accès ouvert
OA - Non
XX
Type d'accès
Non OA
XX
Editeur
Elsevier
XX
Source
SOLID-STATE ELECTRONICS
XX
ISSN
0038-1101
XX
Type de document
Article
XX
Notoriété
2 - Acceptable
XX
CNRS
Oui
XX
CNRS - Institut
INSIS - Institut des sciences de l'ingénierie et des systèmes
XX
uid:/PN5FHXVC
12/10/2021 14:52:34 (latest)
Add field
Share/Export
Powered by
Lodex
9.6.0
